光学薄膜检测仪-武汉海维鑫

海维鑫输出缺陷记录

当前记录

通过数据表格记录当前缺陷的相关信息（生产批号、缺陷位置、坐标、面积、类别、产生时间等信息）；

可对缺陷信息即时删除和缺陷类别的人工判定修改。

历史记录

通过图片墙和数据表两种方式来查看历史记录，光学薄膜检测仪， 图片墙和数据表对应互动；

多种方式（时间或产品名称等）搜索历史记录；

历史记录的管理（编辑，删除，更新）。

武汉市海维鑫科技有限公司一直致力于机器视觉项目的研究与开发，并吸纳同研发人才，打造、具个性化的机器视觉检测系统产品。可针对性的为客户提供的定制化的技术方案和设备配置方案。可为客户提供个性化的售后服务。

公司研发技术团队，与武汉大学，武汉理工大学，武汉科技大学签订了产学研合作项目.公司的团队全部为本科以上---，其中硕士研究生以上---占总人数的50%，且具备10多年行业经验。